型号：10X、20X、50X

简介：WLI(Z)50/10/05/01系列白光干涉三维形貌仪是采用日本最先进的白光干涉扫描技术研制的纳米量级形貌测量仪器, 透过精密的扫描系统和自主专利的解析算法,进行样品表面微细形貌的量测与分析。表面显微成像能力与高精度测量的完美结合, 只需数秒钟,就能观测到表面的三维轮廓、台阶高度、表面纹理、微观尺寸以及包含各类参数的测量结果。